BME VIK - Elektronikai rendszerek vizsgálata laboratórium

3. A tantárgyfelelős személy és tanszék Dr. Gordon Péter Róbert,

4. A tantárgy előadója

Név:	Beosztás:	Tanszék, Int.:
Dr. Gordon Péter	egyetemi docens	ETT
Dr. Hurtony Tamás	egyetemi docens	ETT

6. Előtanulmányi rend

Kötelező:

NEM
(TárgyEredmény( "BMEVIETMB00", "jegy" , _ ) >= 2
VAGY
TárgyEredmény("BMEVIETMB00", "FELVETEL", AktualisFelev()) > 0)

A fenti forma a Neptun sajátja, ezen technikai okokból nem változtattunk.

A kötelező előtanulmányi rend az adott szak honlapján és képzési programjában található.

7. A tantárgy célkitűzése

A tantárgy célja, hogy gyakorlati ismereteket nyújtson elektronikai alkatrészek és termékek

minőségbiztosításának stratégiájáról, minőségi és hibaanalitikai vizsgálatainak megtervezéséről,

laboratóriumi és numerikus szimulációs kísérletek végrehajtásáról, kiértékeléséről és dokumentálásáról.

8. A tantárgy részletes tematikája

A laborfoglalkozás során a hallgatók megismerkedhetnek az alábbi vizsgálatok lehetőségeivel, korlátaival, továbbá az egymást kiegészítő jellegükkel:

Röntgen-fluoreszcens spektrométeres (XRF) vizsgálatok
Elektronikai alkatrészek, nyomtatott huzalozású lemezek és a forraszanyag ötvözetek anyagösszetétel vizsgálata. Az anyagok összehasonlítása a specifikációban és a szabványban rögzített értékekkel.
Szerelőlemez mechanikai deformációjának vizsgálata
Végeselem szimulációk segítségével különböző kényszerek mellett áramköri szerelőlemezek deformációjának vizsgálata
Nyúlásmérő bélyeges vizsgálatok
Szerelt és szereletlen áramköri hordozók előkészítése nyúlásmérő bélyeges vizsgálatokra. A panelt érő mechanikai hatások függvényében a panel felületén mérhető megnyúlás és annak hatásainak vizsgálata.
Infravörös spektroszkópiás (FT-IR) vizsgálatok
Szerves eredetű szennyezők vizsgálatára FT-IR berendezéssel. Az infra elnyelési spektrumok utófeldolgozása és a spektrumokból levonható következtetések vizsgálata.
Röntgenes struktúravizsgálat
Elektronikai alkatrészek röntgenmikroszkópos vizsgálata. A röntgenmikroszkóppal készíthető képek értelmezése és dokumentálása a rejtett forrasztott kötések elemzéséhez.
Computer tomográfiás (CT) vizsgálatok
A CT vizsgálatok alapjainak áttekintése és a rekonstruált 3D modellből nyerhető információk vizsgálata.
Pásztázó akusztikus mikroszkópos (SAM) vizsgálatok
SAM vizsgálatok megtervezése, elvégzése és értelmezése az integrált áramköri tokon belüli delaminációk és repedések feltérképezésére.
Optikai mikroszkópos és penetrációs vizsgálatok
Keresztcsiszolatok készítése és kiértékelésük elvégzése. Különleges kontrasztnövelő és festékpenetrációs minta előkészítési módszerek alkalmazása a gyakorlatban.
Pásztázó elektronmikroszkópiai (SEM)
SEM vizsgálatok alapjainak áttekintése. Elektronsugaras mikroanalízis (EDS) vizsgálatok gyakorlati alkalmazása elektronikai eszközök hibakeresésében. Elektron-anyag kölcsönhatás vizsgálata Monte Carlo szimulációk segítségével. Az elektronmikroszkópos vizsgálatok korlátainak visszavezetése az elektron anyag kölcsönhatásra.
Vizsgamérés
Önálló problémamegoldás elektronikai gyártásból származó valós mintákon. A félév során megismert analitikai módszerek alapján egy példára vonatkozó vizsgálati terv összeállítása és az eredményekből levonható következtetések kiértékelés.

9. A tantárgy oktatásának módja (előadás, gyakorlat, laboratórium) Kiscsoportos egyéni ill. vezetett gyakorlat, kiscsoportos laboratóriumi mérések.

10. Követelmények

Szorgalmi időszakban:

Az egyes gyakorlatokon a hallgatók osztályzatot kapnak a felkészültségük, a mérési feladat elvégzése közben mutatott aktivitásuk és a mérési jegyzőkönyv alapján. Az osztályzatok átlaga 50%-os súllyal számít bele a félév végi osztályzatba.
A laborfoglalkozások során a hallgatók jegyzőkönyv-vázlatot készítenek, melyet házi feladatként véglegesítenek.
A hallgatók az utolsó laborgyakorlaton vizsgamérésen vesznek részt, ennek osztályzata 50%-os súllyal számít bele a félév végi osztályzatba.

Vizsgaidőszakban:

11. Pótlási lehetőségek Az elmaradt laborok pótlása vagy a vizsgamérés pótlása a pótlási héten lehetséges.

12. Konzultációs lehetőségek Igény esetén előzetesen egyeztetett időpontban konzultációt biztosítunk.

13. Jegyzet, tankönyv, felhasználható irodalom

Az egyes gyakorlatokra vonatkozó mérési útmutatók letölthetők a BME-ETT honlapjáról
Electronic Failure Analysis Handbook – Perry L. Martin, McGraw-Hill, 1999.
Szabványos vizsgálati módszerek – IPC TM-650

14. A tantárgy elvégzéséhez átlagosan szükséges tanulmányi munka

Kontakt óra	42
Félévközi készülés laborra	40
Felkészülés zárthelyire	0
Jegyzőkönyv elkészítése	28
Felkészülés a vizsgamérésre	40
Vizsgafelkészülés	0
Összesen	150

15. A tantárgy tematikáját kidolgozta Dr. Gordon Péter, egyetemi docens, ETT és Dr. Hurtony Tamás, egyetemi docens, ETT