Virtual Instrumentation, Testing and Validation

A tantárgy angol neve: Virtual Instrumentation, Testing and Validation

Adatlap utolsó módosítása: 2019. március 7.

Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
Villamosmérnöki és Informatikai Kar
Villmosmérnöki Mesterképzés
A Smart Systems Integration+ EMJMD képzésben
oktatott tárgy
Tantárgykód Szemeszter Követelmények Kredit Tantárgyfélév
VIEEMA07 1 2/0/2/f 4  
3. A tantárgyfelelős személy és tanszék Dr. Ender Ferenc,
4. A tantárgy előadója

Név:

Beosztás:

Tanszék, Int.:

Dr. Ender Ferenc

Egyetemi docens

Elektronikus Eszközök Tsz.

Hantos Gusztáv

Egyetemi tanársegéd

Elektronikus Eszközök Tsz.

5. A tantárgy az alábbi témakörök ismeretére épít Matematika, méréstechnika, programozás, elektronika
7. A tantárgy célkitűzése A kurzus célja a mérnökhallgatók bevezetése az integrált szemléletű hardver tervezésbe, mely magában foglalja a körültekintő alkatrészválasztást, áramkörtervezést és méretezést, tesztelést és validációt. A hallgatók korszerű műszerkezelési és mérésvezérlési alapismeretekre tesznek szert, amit a tanulmányaik és később ipari munkáik során alkalmazni tudnak, illetve ami lehetővé teszi automatizált tesztelő és validáló rendszerek megvalósítát. A körültekintő alkatrészválasztás, áramkörméretezés, a tesztelhetőségre való tervezés módszertanát gyakorlati példákon keresztül ismertetjük. A laborgyakorlatok során a hallgatók egy kiválasztott áramkör tervezési, magvalósítási és tesztelési lépésein, illetve a teszteléshez szükséges virtuális műszeres szoftverkörnyezet elkészítésén keresztül sajátítják el a tananyagot.
8. A tantárgy részletes tematikája 1. rész: Virtuális műszerezés
  • 1. hét    Adatgráf alapú programozás, LabVIEW alapok: objektumok, ciklusok, vezérlési szerkezetek (select, case), adattárolók (shift regiszterek)
  • 2. hét    Adatstruktúrák (tömbök, klaszterek, típusdefiníciók, egyedi vezérlők, tulajdonságok örökítése). Fájlkezelés, fájlformátumok (bináris és szöveges fájlok, XML)
  • 3. hét    Adatkezelés: adatmanipuláció, szűrés, rendezés. Adatmegjelenízés (chart, graph)
  • 4. hét    Állapotgépek. Lineáris és párhuzamos adattranszfer (lokális és globális változók, funkcionális globális változók)
  • 5. hét    Szinkronizált adattranszfer (Notifier és Queue struktúra, VI időzítés), eseményvezérelt programozás
  • 6. hét    VI tesztelés, VI validáció. VI tesztelhetőségre való tervezése. Validációs tervezési minták. Teszteredmények analízise. Folyamatmodell, tesztvégrehajtási protokoll, jelentéskészítés.
  • 7. hét    Mérésadatgyűjtés és kiértékelés, méréstervezés, DAQ architektúra. Hardware-in-the-Loop (HiL) megközelítés. Komponens és rendszer tervezés HiL megközelítésben.
1.  zárthelyi
2. rész: Kiegészítő hardverek tervezése „okos rendszerekhez”
  • 8. hét    Tervezési segédlet diszkrét alkatészek alkalmazás specifikus kiválasztásához, a tesztelhetőségre tervezhetőség szempontjai: passzív/aktív alkatrészek (ellenállások, kondenzátorok, tekercsek, transzformátorok, diódák, tranzisztorok, kapcsolók, relék stb.)
  • 9. hét    Tápellátás alapok beágyazott rendszerekhez: lineáris és kapcsoló üzemű alapkapcsolások és csoportosításuk (Buck/Boost/Cuk/Charge-pump, Flyback/Forward konverterek)
  • 10. hét    Szenzorok “okos rendszerekhez” I.: kompakt áramköri megoldások szenzorokhoz, jelkondícionálás, kalibráló és korrekciós áramkörök, validáció, különböző alapkapcsolások leíró egyenlete.
  • 11. hét    Szenzorok “okos rendszerekhez” II.: bemutatása és csoportosítása valamennyi szenzor család legjellemzőbb típusainak, az alapkoncepciótól a megvalósított eszközök egyedi előnyei és hátrányainak megismerése (hő, nyomás, erő, gyorsulás, stb érzékelők).
3. rész: Projekttervezés (12. – 13. hét)
2. zárthelyi

Laborgyakorlatok
a)    VI tervezés LabVIEW rendszerben (1. – 8. hét)
b)    Áramköranalízis SPICE rendszerben: egyenáramú munkapont, idő és frekvenciatartománybeli analízis, tápegység analízis esettanulmányok (9. – 11. hét)
c)    Tesztelés és validáció HiL megközelízésben (12. – 13. hét)

9. A tantárgy oktatásának módja (előadás, gyakorlat, laboratórium) Előadás (2 óra) és laborgyakorlat (2 óra) hetente.
A tárgy hallgatói számára 1 éves ingyenes LabVIEW oktatási licensz biztosított amely saját PC-re telepíthető

10. Követelmények
  1. Jelenlét: TVSZ szerint laboron legalább 70% részvétel
  2. Szintfelmérő értékelés
    1. A 7. és 14. héten zárthelyi dologozat, ami a végső jegybe 50-50 %-ban számít be. Az aláírás megszerzéséhez mindkét ZH legalább elégséges osztályzata szükséges.
  3. Részteljesítmény értékelés
    1. Kisházifeladat, ami a végső jegybe nem számít be, de elfogadása az aláírás megszerzésének feltétele.
Megjegyzés: A tárgyat jeles eredménnyel teljesítő hallgatók jogosultak a tanszéken egyszeri alkalommal CLAD (Certified LabVIEW Associated Developer) minősítési vizsgát tenni. A vizsgát sikeresen teljesítők hivatalos CLAD minősítést kapnak.
11. Pótlási lehetőségek a)    A házi feleladat késedelmes beadására van lehetőség a pótlási héten.
b)    Minden sikertelen zárthelyi a pótlási időszakban egy alkalommal pótolható

12. Konzultációs lehetőségek Az előadók fogadási idejében, illetve igény szerint egyeztetett időpontban.
13. Jegyzet, tankönyv, felhasználható irodalom Kötelező irodalom:
  • Elektronikusan elérhető előadás fóliák
Ajánlott irodalom:
  • NI LabVIEW Core 1 és LabVIEW Core 2 kurzus jegyzet és feladatgyűjtemény
  • Ulrich Tietze, Christoph Schenk, Eberhard Gamm: "Electronic Circuits, Handbook for Design and Application" (ISBN: 9783540786559)

14. A tantárgy elvégzéséhez átlagosan szükséges tanulmányi munka

Kontakt óra

42

Készülés az előadásokra

14

Készülés gyakorlatokra

14

Felkészülés zárthelyikre

32

Házi feladat elkészítése

16

Önálló tananyag-feldolgozás

2

Vizsgafelkészülés

0

Összesen

120

15. A tantárgy tematikáját kidolgozta

Név:

Beosztás:

Tanszék, Int.:

Dr. Ender Ferenc

Egyetemi docens

Elektronikus Eszközök Tsz.

Hantos Gusztáv

Egyetemi tanársegéd

Elektronikus Eszközök Tsz.