Mikroelektronika és technológia, Elektronika

Az integrált áramkörök témakörének részletes tárgyalása úgy, hogy az segítséget adjon olyan monolit technológia illetve konstrukció kiválasztásához, amely az adott műszaki feladat legkedvezőbb megoldását adja.

A monolitikus technológia korszerű eljárásai. A gyártósorok jellegzetes technológiai berendezései, a gyártás folyamata. A fejlődési tendenciák. MOS, bipoláris és BiCMOS eljárások és struktúrák. A technológiai folyamatok szimulációja. Az integrált áramkörök tokozásának konstrukciója, hőelvezetési kérdések.

A monolit alkatrészek konstrukciója. Tranzisztor, ellenállás, kapacitás stb. tervezése. A fizikai működés szimulációja.

A digitális alapáramkörök konstrukciója TTL, ECL, nMOS, CMOS és BiCMOS megvalósításban. Kapuk, tárolók, multiplexerek, dekóderek, regiszterek, számlálók, aritmetikai elemek. Statikus és dinamikus áramköri megoldások. Szinkron és aszinkron áramkörök. A tervezés és optimalizálás szempontjai és módszerei.

Monolit memóriák típusai. Statikus és dinamikus ROM és RAM memóriák. Memória cellák konstrukciója, címdekóderek, kiolvasó áramkörök. Memóriák konstrukciós problémái.

Monolit technológia illetve konstrukció kiválasztásai szempontjai az adott műszaki feladat legjobb megoldásához.

ASIC áramkörök típusai. Full-custom, cellakönyvtáras és gate-array tipusok. Felhasználói programozású áramkörök, a program beültetés módjai. FPGA és EPLD struktúrák.

A monolit technika alkalmazása analóg áramkörök megvalósítására. Bipoláris és MOS analóg áramkörök: erősítők, műveleti erősítők, komparátorok, analóg szorzók. A szimmetriára vonatkozó követelmények. Az offszet feszültség és drift csökkentésének módszerei. A parazita csatolások és az áramköri elemek toleranciájának konstrukciós problémái.

A monolit technika alkalmazása nagyfrekvenciás áramkörök megvalósítására. Az erősítés és határfrekvenciák kérdései. Nagyfrekvenciás erősítők. Stabilitási problémák.

A tesztelhetőségre tervezés módszerei, scan módszerek, LSSD, T-cella. A boundary-scan elve és használata.

előadás

a. A szorgalmi időszakban: két nagyzárthelyit íratunk. A vizsgára bocsátás és aláírás feltétele a mindkét zárthelyin elért elégséges osztályzat. A félév végén egyszeri pótlási lehetőséget adunk.

b. A vizsgaidőszakban: a vizsgajegy megszerzése: írásbeli vizsgán elégségestől jóig ajánlunk osztályzatokat, melyek szóbeli alapján módosulhatnak.

Mikroelektronika és elektronikai technológia

Szerk.: Dr. Mojzes Imre, (Műsz. Kk. 1994)

VLSI technology

S. M. Sze, (McGraw-Hill Book Comp., 1985)