BME VIK - Tesztelés laboratórium

magyar nyelvű adatlap

vissza a tantárgylistához nyomtatható verzió

Tesztelés laboratórium

A tantárgy angol neve: Testing Laboratory

Adatlap utolsó módosítása: 2007. július 13.

Tantárgy lejárati dátuma: 2013. június 30.

Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
Villamosmérnöki és Informatikai Kar

Villamosmérnöki Szak

Mikrorendszerek és Moduláramkörök 2.

Fő szakirány tárgy

Tantárgykód	Szemeszter	Követelmények	Kredit	Tantárgyfélév
VIEE5027	9	2/0/0/f	3	1/1

3. A tantárgyfelelős személy és tanszék Dr. Zólomy Imre,

A tantárgy tanszéki weboldala http://www.eet.bme.hu/~zolomy/viee5027/

4. A tantárgy előadója

Név:	Beosztás:	Tanszék, Int.:
Dr.Székely Vladimir	Egyetemi tanár	Elektronikus Eszközök Tsz
Dr.Zólomy Imre	Egyetemi tanár	Elektronikus Eszközök Tsz
A tanszék oktatói és doktoranduszai

5. A tantárgy az alábbi témakörök ismeretére épít

Monolit technika

Elektronika

Mikroelektronikai tervezés

6. Előtanulmányi rend

Ajánlott:

Tematikaütközés miatt a tárgyat csak azok vehetik fel, akik korábban nem hallgatták a következő tárgyakat:

7. A tantárgy célkitűzése

A tárgy az IC-k és részegységek tesztelése tárgyhoz kapcsolódva bevezeti a hallgatókat az integrált áramkörök mérési, tesztelési technikájába a digitális és az analóg IC-k vonatkozásában.

8. A tantárgy részletes tematikája

A laboratóriumi foglalkozások során a hallgatók az alábbi gyakorlatokat végzik el:

ˇ Számítógép-vezérelt IC teszter használata

ˇ Shmoo-plotfelvétele

ˇ Gyors tranziensek mérése

ˇ Tesztgenerálás tervező rendszer segítségével

ˇ Beépített önteszttel rendelkező áramkör vizsgálata

ˇ Boundary-scan áramkörrel rendelkező IC-k és a belőlük felépített egység vizsgálata

ˇ Analóg/közfogyasztású IC tesztelése, mérése

ˇ Sztatikus és tranziens termikus hatások mérése IC-n

9. A tantárgy oktatásának módja (előadás, gyakorlat, laboratórium)

Laboratóriumi gyakorlat

10. Követelmények

a. szorgalmi időszakban:

A tárgy félévközi jegy adásával zárul. Követelmény az összes gyakorlat eredményes elvégzése. A félévközi jegy a méréseken kapott jegyek (feleltek és a jegyzőkönyvek) alapján adódik. Aláírást és félévközi jegyet az kaphat, aki valamennyi gyakorlaton részt vett és min. elégséges osztályzatokat kapott a méréseken. Az aláírás keresztfélévben érvényesíthető.

11. Pótlási lehetőségek

Elmaradt mérés pótlására a szemeszter folyamán egyszeri lehetőséget biztosítunk. A félévközi jegy vizsgaidőszakban történő megszerzése a TVSz szerint lehetséges.

12. Konzultációs lehetőségek

Mérések előtti napon a mérésvezetővel lehetséges konzultálni előzetes egyeztetés alapján.

13. Jegyzet, tankönyv, felhasználható irodalom

Mikroelektronika és technológia (szerk: Dr. Mojzes Imre), Tankönyvkiadó, 1993

M.R.Breuer, R.D.Friedman: Diagnosis and reliable design of digital systems,Computer Science Press Inc., 1976

H. Fujiwara: Logic testing and design for testability, MIT Press Cambridge, 1986

P.H.Bardell, W.H.McAnney, J.Savir: Built-in test for VLSI, John Wiley, 1987

A.J.van de Goor: Testing semiconductor memories, John Wiley, 1991

14. A tantárgy elvégzéséhez átlagosan szükséges tanulmányi munka

Kontakt óra	30
Félévközi készülés órákra	30
Felkészülés zárthelyire
Házi feladat elkészítése
Kijelölt írásos tananyag elsajátítása	30
..
Vizsgafelkészülés
Összesen	90

15. A tantárgy tematikáját kidolgozta

Név:	Beosztás:	Tanszék, Int.:
Dr.Székely Vladimir	Egyetemi tanár	Elektronikus Eszközök Tsz
Dr.Zólomy Imre	Egyetemi tanár	Elektronikus Eszközök Tsz

Budapest University of Technology and Economics, Faculty of Electrical Engineering and Informatics

Tesztelés laboratórium